Atomaire krachtsmicroscopie (AFM, Atomic Force Microscopy) is een rastersondetechniek waarmee oppervlakken worden afgebeeld door de krachten te meten tussen een uiterst scherpe naald en het monsteroppervlak. De naald, bevestigd aan een flexibele cantilever, rasterscant het oppervlak punt voor punt; de buiging van de cantilever wordt bijgehouden via een laserstraal die reflecteert op een positiegevoelige detector. Zo ontstaat een driedimensionale topografiekaart met een laterale resolutie van 1–10 nm en een verticale resolutie van minder dan 0,1 nm — zonder dat het monster geleidend hoeft te zijn, onder vacuüm moet worden gebracht of speciale voorbereiding vereist. AFM is daarmee een onmisbare aanvulling op elektronenmicroscopie (SEM, Scanning Electron Microscope; TEM, Transmissie-elektronenmicroscoop), cryo-elektronenmicroscopie (cryo-EM) en confocale microscopie, en vormt de basis van het bredere vakgebied van de rastersondemicroscopie (SPM).
AFM werd in 1986 geïntroduceerd door Binnig, Quate en Gerber als uitbreiding van de rastertunnelmicroscoop (STM). Waar STM een tunnelstroom vereist en daardoor beperkt is tot geleidende oppervlakken, detecteert AFM de mechanische krachten tussen naald en monster — en is daarmee toepasbaar op metalen, polymeren, keramiek, biologische membranen en levende cellen. De techniek behoort tot de familie van rastersondemicroscopen (Scanning Probe Microscopy, SPM). In de jaren negentig werd tapping mode geïntroduceerd, waarmee zachte biologische monsters voor het eerst schadevrij konden worden afgebeeld. Sindsdien heeft AFM zich ontwikkeld tot een veelzijdig platform voor nano-mechanische, elektrische en chemische karakterisering, met afgeleide technieken als KPFM, MFM, PFM en AFM-IR die elk een eigen informatiekanaal ontsluiten.
De cantilever is doorgaans gefabriceerd uit silicium of siliciumnitride en heeft een veerconstante van 0,01–50 N/m, afhankelijk van de beoogde operatiemodus. De naaldradius bedraagt typisch 1–20 nm; gespecialiseerde ultra-scherpe tips kunnen tot onder 1 nm worden geslepen. De cantilever deflecteert wanneer er een kracht werkt op de tip; via de optische hefboom (laserspotverplaatsing op de PSD is ordes van grootte groter dan de werkelijke cantileverbuiging) zijn krachten in het bereik van 10 pN tot 100 nN meetbaar. Een xyz-piezoscanner beweegt het monster onder de naald (of de naald over het monster) met sub-nanometer nauwkeurigheid.
Wanneer de AFM-naald het oppervlak nadert, ervaart zij achtereenvolgens aantrekkende van-der-Waals-krachten (langeafstandsinteractie, aantrekkend), gevolgd door repulsieve krachten zodra de elektronenwolken van naald en oppervlak overlappen. Het kracht-afstand profiel heeft daarmee de karakteristieke Lennard-Jones-vorm: een attractief minimum op enkele nanometers afstand en een steil repulsief gebied bij direct contact. In welk deel van deze curve de naald werkt, bepaalt de operatiemodus.
De feedbackloop is de kern van de AFM-meting: een controller vergelijkt het gemeten signaal (deflectie of trillingsparameter) continu met een ingestelde set-point waarde. De afwijking stuurt de z-piezoscanner aan, die het monster omhoog of omlaag beweegt om het signaal constant te houden. De z-correctie die de piezoscanner per rasterpunt uitvoert, is direct evenredig met de lokale hoogte van het oppervlak — zo ontstaat de topografiekaart.
Afhankelijk van de toepassing, het monstertype en de gewenste informatie wordt een van drie basisoperatiemodi gekozen.
In contact mode (ook: statische mode) bevindt de naald zich in het repulsieve regime: zij raakt het oppervlak direct en ervaart een afstotende kracht. De feedbackloop houdt de cantileverdeflectie — en daarmee de contactkracht — constant. Contact mode levert de hoogste laterale resolutie en snelste scansnelheid, maar brengt risico mee op beschadiging van zachte monsters door de laterale wrijvingskrachten. De modus is bij uitstek geschikt voor harde materialen zoals kristallen, keramiek en metaaloppervlakken, en voor het meten van laterale krachten (Lateral Force Microscopy, LFM).
In non-contact mode (dynamische mode) trilt de cantilever vlak boven zijn resonantiefrequentie f₀ met kleine amplitude (typisch 1–10 nm) en bevindt de naald zich in het attractieve regime op 5–50 nm van het oppervlak. Aantrekkingskrachten verlagen de effectieve veerconstante en verschuiven de resonantiefrequentie of dempen de amplitude. In amplitude-modulatie (AM-AFM) wordt de amplitude als set-point gebruikt; in frequentie-modulatie (FM-AFM) de frequentieverandering. FM-AFM in vacuüm bereikt ware atoomresolutie en is standaard voor reactieve oppervlakken en oxidelagen. Non-contact mode is minder gangbaar in lucht door de storende effecten van het adsorptiewaterlaagje op het oppervlak.
Tapping mode — ook aangeduid als intermitterende contactmode of AC mode — is de meest gebruikte AFM-modus voor lucht en vloeistof. De cantilever trilt dicht bij zijn resonantiefrequentie met een vrije amplitude van 20–100 nm; bij elke trillingsperiode raakt de naald het oppervlak gedurende een fractie van de tijd. De feedbackloop regelt de amplitude op een ingestelde waarde. Doordat de naald slechts korte tijd contact maakt per cyclus, zijn de laterale wrijvingskrachten minimaal — cruciaal voor zachte, viskeuze of los gebonden materialen zoals polymeerfilms, biologische membranen en geadsorbeerde moleculen. Uit de faseverschuiving tussen de aansturing en de respons van de cantilever kan informatie worden verkregen over de visco-elastische eigenschappen van het oppervlak (fase-AFM).
Moderne AFM-systemen bieden naast topografie een reeks van gelijktijdig meetbare of afgeleid informatiekanalen. De meest toegepaste zijn samengevat in de onderstaande tabel.
AFM, SEM/TEM en confocale microscopie zijn complementaire technieken die verschillende eigenschappen van het monster ontsluiten. De keuze hangt af van de gewenste informatie, de monsteraard en de beschikbare middelen. Voor optische nanoscopie die de Abbe-diffractiegrens doorbreekt via lokalisatie of depletie van fluoroforen, zie het artikel over super-resolutiemicroscopie (STORM, PALM, STED).
Naast topografische beeldvorming is AFM een krachtsensor. Bij krachtsspectroscopie (Force Spectroscopy) wordt de naald langzaam op één punt naar het oppervlak bewogen en daarna teruggetrokken terwijl de kracht continu wordt gemeten. De resulterende kracht-afstand curve bevat de volgende informatie:
Force-mapping (ook: HarmoniX, PeakForce QNM) combineert krachtsspectroscopie met rasterscannen: elke beeldpixel bevat een volledige kracht-afstand curve, zodat een kaart van Young-modulus, adhesie of dissipatie-energie over het oppervlak wordt verkregen. Dit is waardevol voor composietmaterialen met heterogene mechanische eigenschappen, zoals fasegescheiden polymeermengsels, biofilmmatrices of vezelversterkte harsen.
AFM wordt breed ingezet voor oppervlakteruwheidmetingen (conform ISO 25178 voor 3D-oppervlaktetextuur), laagdiktebepaling, kwaliteitscontrole van dunne films en coatings, en de karakterisering van nanostructuren zoals nanodraden, koolstofnanobuisjes en grafeenvlokken. De kwantitatieve topografiedata complementeren de resultaten van BET-oppervlakte-analyse (porositeitsbepaling) en laserdiffractie (deeltjesgrootteverdeling) bij nanomaterialenonderzoek. Voor de karakterisering van visco-elastische polymeren is dynamisch-mechanische analyse (DMA) de complementaire bulkmethode; AFM levert het bijbehorende lokale mechanische beeld op nanometerschaal.
In de halfgeleiderindustrie wordt AFM gebruikt voor kritische dimensiemetingen (CD-AFM), defectinspectie, oppervlakteruwheid van wafers en dielektrische laagdiktes. KPFM en EFM brengen ladingsdistributies en lokale werkfuncties in beeld, essentieel voor de evaluatie van organische elektronische componenten en de karakterisering van grenslagen in fotovoltaïsche cellen.
AFM is de enige beeldvormingstechniek die biologische monsters — van eiwitten en DNA tot hele levende cellen — in fysiologisch relevante vloeistofomgeving kan afbeelden zonder fixatie of markering. DNA-conformatie en supercoiling, eiwitaggregaatvorming (amyloïdfibrillen), membraaneiwitten in lipidedubbellagen, en de dynamiek van celadhesie worden routinematig met AFM onderzocht. De krachten bij celadhesie en de stijfheid van cancercellen ten opzichte van gezonde cellen zijn actieve onderzoeksvelden.
In farmaceutisch onderzoek wordt AFM ingezet voor de karakterisering van actieve farmaceutische ingrediënten (API's) op nanometerschaal, de analyse van kristalgroei en polymorfie van geneesmiddelen, en de evaluatie van coatings op tabletvorm. AFM-IR maakt directe chemische identificatie van farmaceutische domeinen op submicrometerschaal mogelijk zonder preparatie. De ruwheidbepaling van implantaatoppervlakken en de karakterisering van nanodeeltjes als drug delivery system zijn verdere toepassingsgebieden.
FaseAFM geeft contrast tussen harde en zachte domeinen in polymeerblends en blokcopolymeren zonder kleuringen. Force-mapping levert de Young-moduluskaart van composieten. SEC/GPC karakteriseert het molecuulgewicht en de molgewichtsverdeling van het polymeer in oplossing; AFM visualiseert de resulterende morfologie van het vaste materiaal op het monsteroppervlak.
Een van de grootste voordelen van AFM is de minimale monstervoorbereiding in vergelijking met elektronenmicroscopie. De meest voorkomende vereisten zijn:
Anders dan bij SEM of TEM is het sputteren van een geleidende laag, het inbedden in hars of het maken van ultradunne coupes niet vereist. Dit maakt AFM bij uitstek geschikt voor zachte, niet-geleidende materialen die niet bestand zijn tegen de preparatiemethoden van elektronenmicroscopie.
De kwaliteit van een AFM-meting hangt af van een samenspel van instrumentele en experimentele parameters.
AFM kent een aantal inherente beperkingen die voor de interpretatie van belang zijn. De scansnelheid is laag in vergelijking met elektronenmicroscopie: een typische high-resolution scan (512 × 512 pixels) duurt enkele minuten. High-speed AFM-systemen (HS-AFM) halen tot 10 frames per seconde maar vereisen speciale cantileverconfiguraties met hoge resonantiefrequentie. Het blikveld is beperkt tot typisch 100 × 100 µm; voor grotere oppervlakken zijn stylus profilometrie of optische interferometrie geschiktere keuzes. Voorts detecteert de AFM-naald uitsluitend het toegankelijke oppervlak: inwendige structuren, poriestructuren of onderbuikse lagen zijn niet rechtstreeks zichtbaar, in tegenstelling tot wat TEM of confocale microscopie bieden. Tipartefacten — vervormingen veroorzaakt door de eindige tipgeometrie — vereisen altijd kritische interpretatie van de laterale afmetingen in het beeld.
AFM functioneert het meest informatief in combinatie met aanvullende technieken. Raman-spectroscopie identificeert moleculaire bindingen en kristalstructuur; gecombineerd als TERS (Tip-Enhanced Raman Spectroscopy, waarbij een scherpe metalen naald zoals bij AFM met Raman wordt gecombineerd) levert dit chemisch specifieke beeldvorming op nanometerschaal. FTIR-spectroscopie en nabij-infraroodspectroscopie karakteriseren de bulkchemische samenstelling; AFM-IR vertaalt dit naar ruimtelijk opgeloste chemische kaarten. BET-oppervlakte-analyse kwantificeert het totale specifiek oppervlak van poedermateriaal; AFM toont de lokale morfologie van individuele deeltjes of aggregaten. Elektrochemische impedantiespectroscopie (EIS) karakteriseert coatings en elektrodeprocessen in bulk; EFM en KPFM brengen de elektrische eigenschappen ruimtelijk in kaart op nanometerschaal.
Voor de bepaling van mechanische bulkeigenschappen van polymeren levert DMA de macroscopische Young-modulus, verliesmodulus en glasovergangstemperatuur; AFM-force mapping voegt het lokale mechanische beeld toe. Bij deeltjeskarakterisering sluit AFM aan op laserdiffractie voor groottedistributie en sonicatie voor deagglomeratie van nanopartikels vóór de AFM-meting.
AFM staat voor Atomic Force Microscopy, in het Nederlands atomaire krachtsmicroscopie. De naam verwijst naar het werkingsprincipe: een atomair scherpe naald meet de krachten (“atomic forces”) tussen naaldpunt en oppervlak. De techniek wordt aangeduid als microscopie omdat ze, net als licht- en elektronenmicroscopie, een ruimtelijk beeld van het monsteroppervlak oplevert. De afkorting AFM wordt in het Nederlands zonder uitschrijving gebruikt; in de wetenschappelijke literatuur is Atomic Force Microscopy de internationale standaardterm. AFM is niet te verwarren met de Autoriteit Financiële Markten, die dezelfde afkorting draagt maar een volledig andere organisatie is.
De voornaamste voordelen van AFM zijn: geen vacuüm vereist (meting in lucht of vloeistof), minimale monstervoorbereiding (geen geleidende coating, geen dunne coupe), kwantitatieve 3D-topografie met subnanometer verticale resolutie, toepasbaarheid op alle materiaaltypen (geleidend en niet-geleidend), en de mogelijkheid om tegelijkertijd mechanische, elektrische en magnetische eigenschappen te meten. De voornaamste nadelen zijn de beperkte scansnelheid — een typische high-resolution scan duurt meerdere minuten — het kleine blikveld (typisch maximaal 100 × 100 µm), en de gevoeligheid voor trilling en omgevingslawaai. Voorts beeldt AFM alleen het toegankelijke oppervlak af; inwendige structuren, poriën of subsurface lagen zijn niet zichtbaar. Tip convolution veroorzaakt een systematische overschatting van laterale afmetingen, wat kritische interpretatie vereist.
AFM is in principe toepasbaar op vrijwel elk vaste-stofmateriaal, ongeacht of het geleidend, halfgeleidend of isolerend is. Metalen, keramiek, glas, silicium, polymeren, composieten en biologische materialen zoals eiwitten, DNA, lipidelagen en celwanden kunnen allemaal worden afgebeeld. Vereisten zijn vlakheid op macroschaal en voldoende mechanische stabiliteit van het monster tijdens de meting. Zachte, viskeuze of los gebonden materialen — zoals hydrogelmatriches, slijmlagen of losse moleculen — vereisen tapping mode of meting in vloeistof om monsterbeschadiging te vermijden. Transparantie of opaciteit is niet relevant: anders dan bij optische technieken gebruikt AFM geen licht voor de beeldvorming zelf.
Atoomkrachtsspectroscopie — in de internationale literatuur aangeduid als force spectroscopy of AFM-krachtsspectroscopie — is een AFM-meettechniek waarbij de naald niet over het oppervlak wordt gescand, maar op één locatie langzaam naar het oppervlak wordt bewogen en daarna teruggetrokken. Gedurende deze beweging wordt de kracht op de cantilever continu gemeten als functie van de naald-monsterafstand. De resulterende kracht-afstandcurve onthult de lokale mechanische eigenschappen: de stijfheid (Young-modulus) via het Hertz-model in het contactdeel, de adhesie-energie uit het terugtrekdeel, en bindingskrachten tussen moleculen bij gefunctionaliseerde tips. Toepassingen omvatten de meting van eiwitontvouwingskrachten op pN-niveau, ligand-receptor bindingssterkte in biofysica, en nano-indentatie van polymeerfilms en celwanden.
In de materiaalkunde is AFM een standaardtechniek voor oppervlaktekarakterisering op nanometerschaal. De meest voorkomende toepassingen zijn: kwantitatieve ruwheidsmetingen conform ISO 25178 (Sa, Sq, Sz), laagdiktebepaling van dunne films en coatings via stapanalyse, defectinspectie en morfologische karakterisering van nanostructuren, en nano-mechanische mapping van Young-modulus en adhesie in composietmaterialen via force-mapping. Fase-AFM onderscheidt harde en zachte domeinen in polymeermengsels en blokcopolymeren zonder kleuring. KPFM brengt werkfuncties en contactpotentiaalverschillen in beeld, essentieel voor halfgeleideronderdelen en corrosieonderzoek. AFM-data worden in de materiaalkunde vaak gecombineerd met bulkkarakteriseringstechnieken als DMA (mechanica) en BET (porositeitsbepaling) voor een volledig beeld van materiaalstructuur en -eigenschappen.
In de analytische scheikunde en materiaalchemie wordt AFM ingezet voor oppervlaktekarakterisering op moleculaire schaal. Toepassingen omvatten de studie van adsorptieverschijnselen, de karakterisering van zelf-assemblerende monolagen (SAM's), de analyse van kristalgroei en polymorfie van organische verbindingen, en de visualisatie van reactieve oppervlakken en katalysatoren. In de farmaceutische scheikunde maakt AFM-IR directe chemische identificatie van actieve ingrediënten en hulpstoffen op submicrometerschaal mogelijk. In de polymeerscheikunde geeft fase-AFM contrast tussen chemisch verschillende domeinen in blokcopolymeren en polymeermengsels zonder kleuring. AFM is daarmee een brug tussen bulk-analytische methoden als FTIR-spectroscopie en Raman-spectroscopie enerzijds, en de ruimtelijk opgeloste oppervlaktechemie op nanometerschaal anderzijds.
Een AFM brengt een uiterst scherpe naald (tip), gemonteerd op een flexibele cantilever, tot op nanometers afstand van een oppervlak. Wanneer de tip het oppervlak nadert of aanraakt, buigt de cantilever als gevolg van de krachten tussen naald en monster. Een laserstraal die op de achterzijde van de cantilever is gericht, reflecteert naar een positiegevoelige detector (PSD); de verschuiving van de laserplek op de detector is een directe maat voor de buiging van de cantilever. Een feedbacksysteem vergelijkt deze buiging continu met een ingestelde referentiewaarde en stuurt een piezoscanner aan die het monster in de z-richting beweegt om de buiging constant te houden. De z-correctie per rasterpunt levert zo, punt voor punt, een driedimensionale topografiekaart van het oppervlak op.
AFM bereikt een laterale resolutie van 1–10 nm in lucht en vloeistof, afhankelijk van de tipradius en de operatiemodus. In vacuüm met FM-AFM zijn ware atoomresoluties haalbaar. De verticale (z-)resolutie is subangström: waarden van 0,01–0,1 nm zijn routinematig haalbaar, wat AFM tot een van de nauwkeurigste hoogtemetinstrumenten maakt. De laterale resolutie wordt in de praktijk beperkt door de eindige tipradius (tip convolution), monsterbeweging en trillingsruis. De verticale resolutie hangt primair af van de ruis in de detectie-elektronica en de piezoscanner, niet van de golflengte van licht — waardoor AFM de Abbe-diffractielimiet van optische microscopie ver overtreft.
Met een gewone lichtmicroscoop zijn atomen niet zichtbaar: de Abbe-diffractielimiet van optische microscopie ligt rond 200 nm, terwijl een atoom een diameter heeft van 0,1–0,5 nm. Elektronenmicroscopie (TEM) kan individuele atomen afbeelden dankzij de kortere golflengte van elektronen. AFM in niet-contactmodus met frequentiemodulatie (FM-AFM) in vacuüm bereikt eveneens ware atoomresolutie: periodieke roosterstructuren en individuele atomen op kristaloppervlakken zijn onder die omstandigheden routinematig zichtbaar gemaakt. In lucht en vloeistof is de laterale resolutie van AFM 1–10 nm — voldoende voor nanostructuren, macromoleculen en DNA, maar niet voor het onderscheiden van individuele atomen.
AFM heeft een aantal unieke voordelen die het onderscheiden van elektronenmicroscopie en optische microscopie. Ten eerste is geen vacuüm vereist: meting in lucht, gas of vloeistof is standaard mogelijk, wat levende biologische monsters toegankelijk maakt. Ten tweede is de monstervoorbereiding minimaal: geen geleidende coating, geen inbedding in hars, geen ultradunne coupes. Ten derde levert AFM kwantitatieve 3D-topografiedata met subnanometer verticale resolutie, terwijl SEM alleen kwalitatief contrast geeft. Ten vierde kan AFM naast topografie tegelijkertijd mechanische, elektrische en magnetische eigenschappen meten via de diverse afgeleide modi (fase-AFM, KPFM, MFM). Ten vijfde is AFM toepasbaar op alle materiaaltypen: geleidend, niet-geleidend, transparant of opaak. Het voornaamste nadeel is de beperkte scansnelheid en het kleine blikveld in vergelijking met SEM.
In contact mode bevindt de naald zich voortdurend in direct contact met het oppervlak, in het repulsieve krachtregime. De feedbackloop houdt de cantileverbuiging constant, wat neerkomt op een constante contactkracht. Dit geeft de hoogste laterale resolutie en snelste scansnelheid, maar de continue laterale wrijvingskrachten kunnen zachte monsters beschadigen of losse moleculen wegduwen. In tapping mode trilt de cantilever dicht bij zijn resonantiefrequentie; de naald raakt het oppervlak slechts gedurende een fractie van elke trillingsperiode. Hierdoor zijn de laterale wrijvingskrachten verwaarloosbaar klein. Tapping mode is daardoor de voorkeursmodus voor zachte, viskeuze of biologische monsters. Het nadeel ten opzichte van contact mode is een iets lagere laterale resolutie en een lagere scansnelheid door de complexere feedbackregeling.
Rastersondemicroscopie (Scanning Probe Microscopy, SPM) is de overkoepelende aanduiding voor alle microscopietechnieken die een uiterst scherpe sonde punt voor punt over een oppervlak bewegen om lokale eigenschappen te meten. De bekendste SPM-technieken zijn AFM (atomaire krachtsmicroscopie) en STM (rastertunnelmicroscopie). AFM detecteert mechanische krachten en is toepasbaar op alle materialen; STM detecteert een quantummechanische tunnelstroom en is beperkt tot geleidende oppervlakken. Afgeleide SPM-technieken meten magnetische velden (MFM), elektrische potentialen (KPFM), piezovervorming (PFM) of tip-versterkte Raman-signalen (TERS). Alle SPM-technieken hebben gemeen dat de sonde-monsterkoppeling de informatie levert, niet de optische golflengtebeperking of een elektronenbundel.
AFM en SEM (rasterelektronenmicroscoop) zijn complementaire technieken met fundamenteel verschillende werkingsprincipes. SEM scant een gefocusseerde elektronenbundel over het monster en detecteert secundaire of teruggestrooide elektronen; dit levert een kwalitatief 2D-beeld van het oppervlak met laterale resolutie tot ~1 nm. AFM tast het oppervlak mechanisch af met een naald en levert een kwantitatieve 3D-topografiekaart met subangström verticale resolutie. SEM vereist vacuüm, een geleidend monster of een geleidende coating, en is destructief voor gevoelige biologische monsters; AFM kan in lucht of vloeistof meten zonder coating en is niet-destructief voor zachte materialen. SEM heeft een veel groter blikveld (tot centimeterschaal) en hogere scansnelheid; AFM is langzamer maar geeft unieke kwantitatieve hoogteinformatie en kan tegelijkertijd mechanische en elektrische eigenschappen meten.
De rastertunnelmicroscoop (STM) meet een quantummechanische tunnelstroom tussen een geleidende naald en een geleidend oppervlak en is daarmee beperkt tot geleidende materialen. AFM detecteert mechanische krachten en werkt op alle materiaaltypes, inclusief isolatoren, polymeren en biologische monsters. AFM bereikt geen atoomresolutie in lucht maar haalt deze in niet-contact FM-AFM in vacuüm wel.
Oppervlakteruwheid wordt uitgedrukt als Ra (gemiddelde ruwheid, arithmetisch gemiddelde van de absolute z-afwijkingen), Rq (RMS-ruwheid, geometrisch gemiddelde van de z-afwijkingen) of als 3D-parameters conform ISO 25178 (Sa, Sq, Sz). AFM levert directe, kwantitatieve ruwheidswaarden met sub-angström verticale resolutie, onafhankelijk van de optische diffractielimiet.
Ja. Meting in vloeistof elimineert de capillaire krachten die door het adsorptiewater in lucht worden veroorzaakt en maakt meting onder fysiologische omstandigheden mogelijk. Een vloeistofcel sluit het monster af van de omgeving terwijl de naald en scanner via een vloeistoflaag met het monster in contact zijn. Tapping mode in vloeistof is de standaard voor biologische toepassingen.
Een standaard scan van 512 × 512 pixels met hoge resolutie bij lage scansnelheid (0,5–1 Hz) duurt 8–17 minuten. Bij grotere blikvelden of lagere resolutie gaat het sneller; bij high-speed AFM systemen met geoptimaliseerde cantileverconfiguratie zijn frames per seconde haalbaar voor monitoring van dynamische processen.
De eindige tipradius veroorzaakt tip convolution: de naald kan niet doordringen in holtes die smaller zijn dan de tipdiameter, en steile zijwanden worden afgerond weergegeven. Dit veroorzaakt een systematische overschatting van de laterale afmetingen. Verticale afmetingen zijn niet of nauwelijks beïnvloed door tip convolution. Gespecialiseerde tips (koolstof-nanobuisje-tip, flared tip voor diepe holtes) verminderen dit artefact.
Labvakhandel levert ondersteunende apparatuur en verbruiksartikelen voor de voorbereiding en uitvoering van AFM-metingen, waaronder apparatuur voor optisch onderzoek en microscopie, trillingsisolatietafels en monsterbevestigingsmateriaal. Voor advies over uw specifieke toepassing in materiaalonderzoek of oppervlakteanalyse neemt u contact op met onze specialisten.
Disclaimer: De informatie in dit artikel is bedoeld als algemene technische toelichting. Canidae Seal B.V. / Labvakhandel.nl aanvaardt geen aansprakelijkheid voor de toepassing van deze informatie in specifieke analytische, klinische of industriële situaties. Raadpleeg voor uw eigen toepassing altijd de geldende normen, vakliteratuur en de documentatie van fabrikant en apparatuur.
Inloggen
Wachtwoord vergeten
Account aanmaken
Uw winkelwagen is leeg.
