ICP-MS en ICP-OES: elementanalyse, detectiegrenzen en toepassingen

Inductief gekoppeld plasma massaspectrometrie (ICP-MS) en inductief gekoppeld plasma optische emissiespectrometrie (ICP-OES) zijn de meest gevoelige en veelzijdige technieken voor elementanalyse in vloeibare monsters. Beide technieken maken gebruik van een argon-plasma bij 6000–10000 K om het monster volledig te atomiseren en te ioniseren. ICP-OES meet de karakteristieke lichtemissie van de geëxciteerde atomen; ICP-MS scheidt de ionen op massa/ladingsverhouding (m/z) en biedt detectiegrenzen tot in het sub-ng/l-bereik. Beide technieken zijn onmisbaar in milieu-analyse, voedingsmiddelencontrole, farmaceutische industrie en materiaalonderzoek.

Principe

Het monster wordt via een vernevelaar omgezet in een fijne aerosol en via een spraykamer in de ICP-toorts gebracht. In de toorts wordt een argonstroom inductief verhit door een radiofrequente spoel (27,12 MHz), waardoor een plasma ontstaat met temperaturen tot 10000 K. Bij deze temperatuur worden alle chemische verbindingen volledig gedissocieerd, geatomiseerd en geïoniseerd. ICP-OES meet de karakteristieke emissielijnen van de geëxciteerde elementen gelijktijdig via een optisch grating en een CCD-detector. ICP-MS leidt de ionen via een interface (sampler en skimmer cones) naar een vacuümsysteem, waarna een quadrupool-massafilter of sectorveld-analysator de ionen scheidt op m/z.

Welk gas wordt gebruikt in ICP en waarom argon?

Beide technieken — ICP-OES en ICP-MS — gebruiken argon als plasmagas, en dat is geen toevallige keuze. Argon heeft vier eigenschappen die het bij uitstek geschikt maken:

• Edelgas: argon reageert chemisch niet met het monster of de toorts, waardoor geen ongewenste verbindingen worden gevormd die het signaal zouden storen.
• Ionisatiepotentiaal 15,76 eV: dit is hoog genoeg om bijna alle elementen in het periodiek systeem te ioniseren (de meeste metalen hebben ionisatiepotentialen van 4–10 eV), maar laag genoeg zodat de boogontsteking en plasmaonderhoud met een RF-generator bij 27,12 MHz praktisch uitvoerbaar is.
• Beschikbaarheid en zuiverheid: argon is het derde meest voorkomende gas in de atmosfeer en beschikbaar in hoge zuiverheidsgraden (99,999 %, "5N") tegen relatief lage kosten.
• Argon-emissiespectrum: de karakteristieke emissie van argon-ionen en -atomen valt op bekende, goed gedocumenteerde golflengten die buiten de analytische lijnen van de meeste te meten elementen vallen; dit vereenvoudigt de interpretatie van het emissie- (ICP-OES) of het massaspectrum (ICP-MS).

In een ICP-toorts worden drie afzonderlijke argonstromen gebruikt met elk een eigen functie:

• Koelgas (outer gas): 12–15 l/min; stroomt door de buitenste buis en koelt de kwartsglazen toorts om smelten te voorkomen.
• Hulpgas (auxiliary gas): 0,5–2 l/min; stroomt door de middelste buis en heft de plasma-basis op zodat het plasma de injectiebuis niet beschadigt.
• Vernevelaargas (nebulizer gas): 0,6–1,2 l/min; transporteert de aerosoldruppels vanuit de vernevelaar naar de kern van het plasma.

ICP-OES

ICP-OES (ook aangeduid als ICP-AES) meet de intensiteit van karakteristieke emissielijnen van geëxciteerde atomen en ionen. Moderne instrumenten zijn radiaal of axiaal geconfigureerd: radiale kijkrichting geeft minder matrixinterferenties; axiale kijkrichting biedt lagere detectiegrenzen maar is gevoeliger voor matrixeffecten. Simultane multi-elementdetectie via een echelle-grating en een tweedimensionale CCD maakt het mogelijk om 70 elementen in één meting te bepalen met analysetijden van 1–3 minuten per monster.

Hoeveel elementen kan ICP-OES meten?

ICP-OES kan in principe alle elementen meten die karakteristieke emissielijnen hebben in het UV/Vis-bereik van 160–900 nm, wat neerkomt op circa 70 elementen van het periodiek systeem die routinematig in één meting worden bepaald. Dit omvat vrijwel alle metalen en halvometalen — van lithium tot uranium — en ook enkele niet-metalen zoals fosfor, zwavel (in vacuüm-UV-configuratie), arseen, seleen en borium. Moderne simultane ICP-OES-instrumenten met een echelle-grating en een tweedimensionale CCD-detector leggen het volledige emissiespectrum gelijktijdig vast, waardoor de analist achteraf voor elk gemeten element de optimale emissielijn kan selecteren. Elementen die ICP-OES structureel niet of nauwelijks kan meten zijn de edelgassen (geen emissielijn in het bruikbare bereik), chloor en fluor (emissielijn in het vacuüm-UV beneden 130 nm, buiten bereik van standaardinstrumenten), en koolstof, waterstof en stikstof (hoge achtergrond vanuit de plasmaomgeving). Voor deze elementen zijn CHNS-verbrandingsanalyse of ionenchromatografie de aangewezen alternatieven.

Detectiegrenzen van ICP-OES liggen typisch in het bereik van 0,001–0,1 mg/l, afhankelijk van het element en de matrix. Dit is gevoeliger dan vlam-AAS maar minder gevoelig dan GF-AAS en ICP-MS.

ICP-MS

ICP-MS combineert de ionisatiekracht van het ICP-plasma met de massa-selectiviteit van een massaspectrometer. De detectiegrenzen liggen 100–1000 keer lager dan ICP-OES, typisch in het ng/l tot sub-ng/l bereik. ICP-MS geeft bovendien isotopische informatie, waardoor isotopverdunningsanalyse (IDMS) mogelijk is — een primaire meetmethode met de laagst bereikbare meetonzekerheid. Koppeling van ICP-MS met HPLC of IC voor anionen in water maakt speciatie-analyse mogelijk: de bepaling van verschillende chemische vormen van hetzelfde element (As(III)/As(V), Cr(III)/Cr(VI), organotin).

Waarom is ICP-MS zo gevoelig?

De uitzonderlijke gevoeligheid van ICP-MS — detectiegrenzen tot in het sub-ng/l-bereik — komt voort uit een combinatie van drie factoren die samen een vrijwel ruis-vrij telsysteem opleveren:

• Bijna volledige ionisatie in het argonplasma: bij 6000–10000 K worden vrijwel alle elementen voor meer dan 90–99 % omgezet in enkelwaardige positieve ionen. Voor de meeste metalen bedraagt de ionisatiegraad in het argon-ICP > 99 %. Dit betekent dat vrijwel elk atoom van het te bepalen element de detector bereikt als ion — er is nauwelijks verlies in de ionisatiestap.
• Ionentelling in plaats van lichtmeting: ICP-OES meet de intensiteit van licht — een analoog signaal dat gevoelig is voor lampfluctuaties, straylight en detectorruis. ICP-MS telt individuele ionen via een electron multiplier (discrete dynode detector of Faraday cup). Dit is een digitaal telsignaal: bij extreem lage concentraties worden letterlijk individuele ionen per seconde geteld. De ruis bij lage telraten is fundamenteel lager dan de ruis van een analoog lichtsignaal.
• Massaselectiviteit elimineert achtergrondsignaal: de massaspectrometer filtert ionen op een specifieke massa/ladingsverhouding (m/z). Alle andere ionen — ook de overgrote meerderheid van de plasma-achtergrond — worden geblokkeerd. De achtergrondruis bij een specifieke m/z is daardoor extreem laag (typisch < 1–5 tellingen per seconde bij een leeg plasma), terwijl het signaal bij aanwezigheid van het doelelement zelfs bij pg/l-concentraties al tientallen tellingen per seconde oplevert. Dit hoge signaal-ruis-contrast is de directe oorzaak van de lage detectiegrenzen.

Ter vergelijking: ICP-OES meet het lichtsignaal van álle emissielijnen in het spectrum tegelijk en heeft geen equivalent voor de massaselectieve filtering. De achtergrondemissie van de plasma-matrix — argon, lucht, oplosmiddel — is aanzienlijk groter dan de doelsignaalintensiteit bij lage concentraties, wat de detectiegrens van ICP-OES intrinsiek beperkt tot het µg/l-bereik.

Typen ICP-MS instrumenten

ICP-MS is beschikbaar in vier fundamenteel verschillende configuraties, elk met eigen toepassingsgebied en prijsklasse:

Wat is MS1 en MS2? Bij een triple quadrupole ICP-MS/MS functioneert de eerste quadrupole (MS1) als massa-filter die alleen de doelmassa doorlaat; de reaction cell reageert de interfererende ionen weg; de tweede quadrupole (MS2) filtert het reactieproduct dat specifiek is voor het doelelement. Dit is dezelfde tandem-MS-architectuur als in LC-MS/MS, maar toegepast op elementanalyse in plaats van moleculaire analyse.

Dominante fabrikanten zijn Agilent Technologies (7900, 8900 QQQ), PerkinElmer (NexION), Thermo Fisher Scientific (iCAP RQ, iCAP TQ, Element XR sector-field) en Shimadzu (ICPMS-2050). Voor ICP-OES: Agilent (5800/5900 SVDV), PerkinElmer (Avio), Thermo Fisher (iCAP PRO) en Shimadzu (ICPE-9800).

Interferenties in ICP-MS

ICP-MS kent twee typen interferenties. Isobare interferenties treden op wanneer twee isotopen van verschillende elementen dezelfde nominale massa hebben (bijv. ⁶⁴Zn en ⁶⁴Ni bij m/z = 64). Polyatomaire interferenties zijn afkomstig van moleculaire ionen die in het plasma worden gevormd (bijv. ⁴⁰Ar⁴⁰Ar⁺ bij m/z = 80, interfererend met ⁸⁰Se; ⁴⁰Ar³⁵Cl⁺ bij m/z = 75, interfererend met ⁷⁵As). Collision/reaction cell (CRC) technologie verwijdert polyatomaire interferenties door reactie met H₂ of He in een drukkamer vóór de massaanalysator.

Nauwkeurigheid, beperkingen en vergelijking met andere technieken

Hoe nauwkeurig zijn ICP-OES en ICP-MS?

Welke elementen kan ICP-MS niet meten?

ICP-MS is in principe geschikt voor alle elementen met een atomair gewicht > 6 die ioniseerbaar zijn in het argonplasma. De volgende elementen zijn problematisch of niet meetbaar:

• H, C, N, O, F — lichte elementen met massa < 12; ICP-MS werkt niet beneden m/z ≈ 6–7. Bovendien vormen C, N en O de achtergrondmatrix van het plasma en de lucht; niet te meten via ICP-MS.
• Edelgassen (He, Ne, Ar, Kr, Xe) — zeer lage ionisatiegraad in het argonplasma; bovendien is Ar het dragergas zelf en overheerst het signaal.
• Zuurstof (O) en zwavel (S) — hoge ionisatiepotentiaal; ICP-MS is minder gevoelig voor niet-metalen met hoge ionisatiepotentiaal (> 8 eV). Voor S is ICP-OES (181 nm vacuüm-UV-lijn) of IC de aangewezen methode.

Is ICP-MS destructief? Ja — het monster wordt volledig geatomiseerd en geïoniseerd in het plasma bij temperaturen tot 10.000 K. Voor de kwantitatieve bepaling van koolstof, waterstof, stikstof en zwavel in organische verbindingen, biomassa en bodemmonsters — de elementen die ICP-MS juist niet kan meten — is CHNS-elementanalyse (verbrandingsanalyse) de aangewezen methode. CHNS en ICP zijn daarmee complementaire technieken voor een volledig elementprofiel van een monster. Alle moleculaire informatie gaat verloren; het monster is na de meting niet meer bruikbaar. Dit is fundamenteel anders dan niet-destructieve technieken zoals XRF, FTIR of NMR waarbij het monster intact blijft.

ICP-MS en ICP-OES versus andere technieken

Raman-spectroscopie is een aanvullende vibratietechniek die complementair is aan FTIR; zie het kennisbankartikel over Raman.

Monstervoorbereiding voor ICP

Vloeistoffen worden direct of na verdunning geïnjecteerd. Vaste monsters en biologisch materiaal worden volledig opgelost via een geschikte destructiemethode:

• Natte destructie — verhitting met geconcentreerd salpeterzuur (HNO₃) en eventueel HCl, H₂O₂ of HF in open systeem of onder druk.
• Microgolfdestructie — gesloten PTFE-vaten in een microgolfoven; snellere en completere destructie bij hogere temperatuur en druk; minder contaminatierisico.
• Droge verassing — verbranding in moffeloven bij 450–550 °C, gevolgd door oplossen van het residu in zuur. Geschikt voor organisch materiaal; risico op verlies van vluchtige elementen (As, Hg, Se, Pb).
• Monsterfiltratie — filtreer opgeloste monsters door een membraanfilter van 0,2 of 0,45 µm voordat het in het instrument wordt gebracht. Deeltjes verstoppen de vernevelaar en beschadigen de spraykamer.

Toepassingen

Milieu en water

ICP-OES en ICP-MS zijn de referentiemethoden voor multi-element analyse van drinkwater, oppervlaktewater, afvalwater en sediment conform ISO 11885 (ICP-OES) en ISO 17294 (ICP-MS). Prioritaire stoffen en zware metalen conform de Europese Kaderrichtlijn Water (2000/60/EG) worden bewaakt in oppervlaktewater. ICP-MS/MS maakt ultragevoelige arsenicum- en seleen-bepaling mogelijk bij sub-ng/l normen. Voor de waterspecifieke toepassing van ICP-emissiemeting — inclusief normen conform EU-richtlijn 2020/2184, Kaderrichtlijn Water en speciatie-analyse — zie het kennisbankartikel over ICP-emissiemeting voor wateranalyse. Voor het bredere kader van zware metalenanalyse in water — met een element-per-element beschrijving, drinkwater- en KRW-normen en de vergelijking van instrumentele technieken (ICP-MS, ICP-OES, GF-AAS, CV-AAS, ASV) — is er een aanvullend kennisbankartikel.

Voedingsmiddelen

Multi-elementscreening van voedingsmiddelen op zware metalen (Pb, Cd, As, Hg, Ni) conform EC-verordening 1881/2006 en 2023/465. Voedingswaarde-elementen (Ca, Fe, Zn, Se, I, Cu, Mn) in voedingssupplementen en babyvoeding worden bepaald via ICP-OES. Speciatie van anorganisch arseen in rijst en rijstproducten via IC-ICP-MS.

Farmaceutische industrie

Elementaire onzuiverheden in geneesmiddelen worden bepaald conform ICH Q3D en USP <232>/<233>. ICP-MS is de voorkeursmethode voor de zogenaamde orale-, parenterale en inhalatie-pDEs (permitted daily exposures) van 24 elementen. Katalysatorresiduen (Pd, Pt, Rh, Ir, Ru, Os) in API's afkomstig van katalytische synthesestappen vereisen ICP-MS op sub-ppm niveau.

Geologie en materiaalonderzoek

Isotopverhoudingen voor datering (Rb/Sr, U/Pb, Sm/Nd), spoorelementkartering in gesteente en mineralen via laser-ablatie ICP-MS (LA-ICP-MS), en zuiverheidscontrole van hoogzuivere metalen en halfgeleiders.

Wat zijn de alternatieven voor ICP-MS en ICP-OES?

De keuze voor een alternatief hangt af van het aantal te bepalen elementen, de vereiste detectiegrens, de beschikbare budgetten en de complexiteit van de matrix. De voornaamste alternatieven per situatie zijn:

In de praktijk worden ICP-MS en ICP-OES zelden volledig vervangen door alternatieven in routinelaboratoria die breed elementonderzoek uitvoeren — de multi-elementcapaciteit en de breedte van het meetbereik zijn uniek. Alternatieven zijn vooral relevant als kosteneffectieve oplossing voor een beperkt, stabiel elementpakket of als aanvullende techniek voor specifieke elementen of matrices waarvoor ICP minder geschikt is.

Gerelateerde technieken

Voor enkelelementanalyse bij lagere kosten is atoomabsorptiespectroscopie (AAS) de eenvoudigere keuze. Ionspeciatie in waterige matrices wordt gecombineerd met UV/Vis-detectie of via koppeling met IC. Voor moleculaire structuuranalyse zijn FTIR, Raman-spectroscopie en NMR de aangewezen technieken. Voor de snelle bepaling van natrium en kalium via atomaire emissie met een vlam — zoals in klinische chemie, landbouw en wateranalyse — is vlamfotometrie (atomaire emissie-spectrometrie) een eenvoudigere en kosteneffectievere optie.

Veelgestelde vragen

Wat betekent ICP en wat is het verschil tussen ICP-MS en ICP-OES?

ICP staat voor inductief gekoppeld plasma (inductively coupled plasma), de gemeenschappelijke ionisatiebron die bij beide technieken het monster bij temperaturen tot 10.000 K volledig atomiseert en ioniseert. Het verschil zit in de detectie na het plasma: ICP-OES meet het licht dat geëxciteerde atomen en ionen uitzenden (optische emissie), terwijl ICP-MS de gevormde ionen scheidt en telt op basis van hun massa/ladingsverhouding in een massaspectrometer. Dit verschil in detectieprincipe verklaart de overige verschillen in dit artikel: ICP-MS is gevoeliger en geeft isotopische informatie, terwijl ICP-OES robuuster is tegen hoge zoutmatrices en lagere aanschaf- en gebruikskosten kent. ICP-MS wordt daarmee niet beschouwd als losstaande "massaspectrometrie" in de klassieke zin, maar als een specifieke toepassing van massaspectrometrie op elementniveau in plaats van moleculair niveau.

Wanneer kies ik ICP-OES boven ICP-MS?

ICP-OES is de voorkeur bij hogere concentraties (mg/l-bereik), zware matrices met hoog gehalte aan opgeloste vaste stoffen (TDS), of wanneer budgetbeperkingen het gebruik van ICP-MS uitsluiten. ICP-MS is noodzakelijk bij concentraties onder 0,1 µg/l, bij isotoopanalyse, speciatie-analyse, of wanneer de vereiste detectiegrens (norm) niet haalbaar is met ICP-OES.

Kan ICP-OES silicium meten?

Ja, ICP-OES kan silicium (Si) meten, maar er zijn specifieke beperkingen waarmee rekening moet worden gehouden. De sterkste emissielijn van Si ligt bij 251,6 nm, een golflengte die toegankelijk is voor de meeste moderne ICP-OES-instrumenten. De detectiegrens voor Si met ICP-OES bedraagt typisch 0,01–0,05 mg/l — vergelijkbaar met andere elementen in het middenbereik. De beperkingen zijn:

• Hoge blanco door glaswerk: silicium is aanwezig als sporenelement in vrijwel al het laboratoriumglas. Monsters die in contact zijn geweest met glazen apparatuur (maatkolven, glazen trechters, glazen destructievaten) kunnen een verhoogde Si-blanco hebben die de werkelijke monsterbijdrage maskeert. Voor nauwkeurige Si-bepaling worden plastiek (PTFE, PFA, PP) monsterhouders en zuurlijnen gebruikt en wordt een hoge-zuiverheid HNO₃ gebruikt die vrij is van Si-sporen.
• Hydrofluorzuur (HF) bij silicaatdestructie: voor de volledige oplossing van silicaatmineralen, glas, keramiek en Si-rijke matrices is HF vereist, omdat Si als SiF₄ vluchtig is in aanwezigheid van F⁻. Na destructie met HF moet de HF worden verdampt of gebonden (met H₃BO₃) vóór injectie in de ICP-OES, omdat HF de kwartsglazen toorts ernstig beschadigt. Instrumenten met een HF-bestendige toorts (robuuste plastiek componenten, speciale spray chambers) zijn beschikbaar voor directe meting in HF-bevattende matrices.
• Spectrale interferenties: de Si-lijn bij 251,6 nm kan worden verstoord door Fe- en Cu-emissies in matrices met hoog ijzergehalte. Golflengteselectie en interferentiecorrectiefactoren zijn noodzakelijk bij dergelijke matrices.

Voor ICP-MS geldt dezelfde blanco-problematiek voor Si, met als extra complicatie dat ⁸Si (m/z = 28) een grote polyatomaire interferentie heeft van ¹²C¹⁶O⁺ en ¹⁴N₂⁺ uit de atmosfeer; Si-bepaling via ICP-MS is daardoor voor de meeste routinetoepassingen minder geschikt dan ICP-OES.

Kan ICP-OES zuurstof of chloor meten?

Zuurstof (O): ICP-OES kan zuurstof in principe meten via emissielijen in het vacuüm-UV-bereik (130–200 nm), maar dit is in standaard laboratoriumomstandigheden niet praktisch uitvoerbaar. De sterkste O-emissielijn ligt bij 130,2 nm, een golflengte die door zuurstof in de atmosfeer zelf wordt geabsorbeerd. Meting is alleen mogelijk wanneer het volledig optisch pad — van plasma tot detector — gespoeld is met inert gas (N₂/Ar-purge) of onder vacuüm staat. Daarvoor zijn speciale vacuüm-UV-ICP-OES-instrumenten vereist die niet in routinelaboratoria voorkomen. In de praktijk wordt O niet via ICP-OES bepaald; voor totaal-zuurstofbepaling in vaste stoffen is verbrandingsanalyse (CHNS+O-analysator) de aangewezen methode.

Chloor (Cl): chloor heeft een ionisatiepotentiaal van 12,97 eV — te hoog voor efficiënte ionisatie in het argon-ICP (ionisatiepotentiaal Ar = 15,76 eV, maar de praktische ionisatiegrens voor goede emissie/detectie ligt lager). De sterkste analytische emissielijn van Cl ligt bij 134,7 nm, eveneens diep in het vacuüm-UV. Standaard ICP-OES-instrumenten meten doorgaans niet onder 160–165 nm; voor chloor zijn speciale VUV-optica en inert purge noodzakelijk. In de routinepraktijk wordt Cl bepaald via ionenchromatografie (IC) voor waterige matrices, of via potentiometrie en titrimetrie. Voor vaste monsters wordt Cl na alkali-smeltontsluiting als chloride via IC bepaald. ICP-MS biedt een alternatief via ³⁵Cl en ³⁷Cl, maar de grote polyatomaire interferenties (¹⁶O¹⁸O⁺H⁺ bij m/z = 35; ³⁶Ar⁺H⁺ bij m/z = 37) maken routinebepaling van Cl via ICP-MS complex zonder speciale maatregelen (high-resolution SF-ICP-MS of ICP-MS/MS).

Wat is beter: ICP-OES of AAS?

Geen van beide technieken is universeel beter; de keuze hangt af van het aantal te meten elementen en de vereiste detectiegrens. ICP-OES meet tientallen elementen simultaan binnen enkele minuten en is daarmee veel sneller bij multi-elementonderzoek, terwijl AAS per meting slechts één element bepaalt en bij grote elementpakketten aanzienlijk meer tijd kost. Voor laboratoria met een beperkt en stabiel elementpakket en een kleiner budget blijft AAS — met name vlam-AAS — een kosteneffectieve keuze met een eenvoudigere bediening en lagere onderhoudskosten. Voor laboratoria die regelmatig brede elementprofielen analyseren of zeer lage detectiegrenzen nodig hebben, is ICP-OES de efficiëntere optie; bij sub-µg/l-niveaus is doorgaans ICP-MS aangewezen in plaats van AAS of ICP-OES.

Wat is het verschil tussen ICP-MS en FTIR?

ICP-MS en FTIR beantwoorden fundamenteel verschillende analytische vragen en zijn geen alternatieven voor elkaar. ICP-MS bepaalt welke elementen in een monster aanwezig zijn en in welke concentratie, door het monster volledig te atomiseren en ioniseren in een plasma; alle moleculaire informatie gaat daarbij verloren. FTIR meet juist de moleculaire bindingen in een monster via infraroodabsorptie en geeft informatie over functionele groepen en chemische structuur, zonder dat het monster wordt afgebroken. In de praktijk worden beide technieken complementair ingezet: ICP-MS voor elementaire samenstelling en sporenanalyse van metalen, FTIR voor identificatie van organische verbindingen, polymeren en kristallijne vaste stoffen.

Wie heeft ICP-MS uitgevonden?

ICP-MS is niet door één persoon uitgevonden maar het resultaat van parallelle ontwikkelingen in meerdere onderzoeksgroepen in de vroege jaren tachtig van de twintigste eeuw. De twee sleutelpublicaties die de techniek als analytische methode vestigden stammen uit 1980. Alan Gray van de University of Surrey (VK) publiceerde in 1980 als eerste een werkend koppeling van een inductief gekoppeld plasma (ICP) aan een massaspectrometer voor elementanalyse van waterige oplossingen. Vrijwel gelijktijdig demonstreerde de groep van Robert S. Houk aan de Iowa State University (VS) in een onafhankelijke publicatie uit datzelfde jaar een vergelijkbare opstelling, met nadruk op de analytische toepasbaarheid voor spoorelementen. De commerciële doorbraak volgde in 1983, toen Sciex (later opgegaan in PerkinElmer en vervolgens in andere divisies) het eerste commerciële ICP-MS-instrument op de markt bracht onder de naam ELAN 250. In de decennia daarna ontwikkelden Fisons (nu Thermo Fisher), VG Instruments, Perkin-Elmer, Agilent en anderen de techniek verder tot de robuuste quad-rupool-, sector-field- en triple-quadrupole-instrumenten die nu de standaard zijn. De ontwikkeling van collision/reaction cell-technologie in de jaren negentig — door groepen bij PerkinElmer en Agilent — maakte de eliminatie van polyatomaire interferenties mogelijk en opende de weg voor brede routinetoepassing in voedsel, milieu en farmaceutica.

Wat zijn recente ontwikkelingen in ICP-MS?

ICP-MS is een technologie die continu evolueert. De meest relevante recente ontwikkelingen zijn:

• Single-cell ICP-MS (scICP-MS): individuele biologische cellen worden via een micronevelaar één voor één geanalyseerd, waardoor het elementgehalte per cel — niet het gemiddelde van een celcultuur — wordt bepaald. Dit maakt het mogelijk nanomaterialen, metaalaccumulatie en cellulaire heterogeniteit in levende systemen te kwantificeren. Detectietijden van microseconden per cel zijn vereist, wat de eisen aan de instrumentelectronica sterk vergroot.
• Single-particle ICP-MS (spICP-MS): vergelijkbaar principe maar voor anorganische nanodeeltjes (goud, zilver, titaandioxyde, cerium) in waterige suspensies. Elke deeltjespulse geeft de massa en daarmee de grootte van het individuele nanodeeltje; tegelijk geeft de pulsfrequentie de deeltjesconcentratie. Standaard geworden voor milieu- en nanotoxicologisch onderzoek.
• ICP-MS/MS (triple quadrupole) als routinetechniek: tot circa 2012 was ICP-MS/MS een laboratoriumcuriositeit; sindsdien zijn modellen als de Agilent 8900 en Thermo Fisher iCAP TQ gemeengoed geworden voor de routinebepaling van As, Se, Cr, V en P in voedsel en milieumonsters, waarbij polyatomaire interferenties door de reaction-cell-chemie volledig worden geëlimineerd.
• Laser-ablatie ICP-MS imaging (LA-ICP-MS): een gefocuste laser rasterert over een vast oppervlak (gesteente, biologisch weefsel, archeologische vondst) en ablateert materiaal punt voor punt in het ICP-MS. Het resultaat is een tweedimensionale elementkaart met een ruimtelijke resolutie tot 5–10 µm. Toepassingen omvatten ijzergehaltekartering in hersenweefsels, zware-metaalverdeling in planten en isotoopkartering in gesteentedunne coupes.
• High-throughput en automatisering: geautomatiseerde monstervoorbereiding (online-digestion, robotische pipettering) gecombineerd met snelle ICP-MS-platforms maken doorvoer van honderden monsters per dag mogelijk in routinelaboratoria, met name in de farmaceutische industrie voor elementaire onzuiverheidsbepaling conform ICH Q3D.

Wat is het effect van een hoge zoutmatrix op ICP-meting?

Hoge concentraties opgeloste vaste stoffen (bijv. zeewater, urine, hoog-zout extracten) leiden tot verstopping van de vernevelaar en sampler cone, matrixgerelateerde signaalonderdrukking (matrix suppression) en verhoging van achtergrondruis. Oplossingen zijn verdunning van het monster, gebruik van een High-Dissolved-Solids (HDS) vernevelaar-spraykamercombinatie, online-verdunning of standaardadditie als kalibratiemethode.

Wat zijn de nadelen van ICP-MS?

Tegenover de hoge gevoeligheid van ICP-MS staan een aantal praktische beperkingen. De aanschafkosten en operationele kosten liggen aanzienlijk hoger dan bij AAS of ICP-OES, mede door het hoge argonverbruik en de noodzaak van regelmatige vervanging van sampler- en skimmercones. De tolerantie voor opgeloste vaste stoffen is laag (doorgaans onder 0,2 % TDS), waardoor monsters met een zoutrijke matrix sterk verdund moeten worden en daarmee detectiegrenzen voor sporenelementen kunnen verslechteren. ICP-MS is bovendien gevoelig voor isobare en polyatomaire interferenties die specifieke maatregelen vereisen, zoals een collision/reaction cell, en is niet geschikt voor de lichte elementen en edelgassen die elders in dit artikel worden beschreven. Tot slot vraagt het instrument meer onderhoud en geschoold personeel dan ICP-OES, wat de instapdrempel voor kleinere laboratoria verhoogt.

Hoe zet je een ICP-MS (of ICP-OES) aan en op?

Het opstarten van een ICP-MS of ICP-OES volgt een vaste volgorde die essentieel is voor een stabiel plasma en betrouwbare meetresultaten. De stappen bij een koude start (instrument was uitgeschakeld):

1. Controleer de argonvoorraad en gasdrukinstellingen. ICP-MS en ICP-OES verbruiken 15–20 l/min argon. Zorg dat de fles of vloeibare-argonbron voldoende gevuld is (minimaal druk vereist door het instrument, doorgaans ≥ 5 bar aan de regelaar). Controleer de drukregelaar en de verbindingen op lekkage.
2. Controleer de waterkoeling. Beide instrumenten zijn uitgerust met een geïntegreerde waterkoeler (chiller) voor de RF-spoel en toorts. Zorg dat de koelwatertemperatuur binnen de opgegeven grenzen ligt (typisch 18–20 °C) en dat de vloeistofniveaus correct zijn.
3. Schakel het instrument in en start de software. Zet de hoofdschakelaar aan en open de instrumentsoftware. Het instrument voert automatisch een zelftest uit (detector HV, vacuümsysteem bij ICP-MS, optische kalibratie). Wacht tot de zelftest is voltooid en alle statusindicatoren groen zijn.
4. Breng het vacuüm op peil (alleen ICP-MS). De turbo-moleculaire pompen van een ICP-MS moeten het analysatorvacuüm bereiken (< 10⁻⁵ mbar) voordat het plasma kan worden gestart. Dit duurt bij een koude start 10–30 minuten. Bij een warm instrument (dagelijks herstart) is het vacuüm doorgaans al op peil.
5. Start het argonplasma. Breng het koelgas (12–15 l/min), hulpgas en vernevelaargas op de ingestelde flows. Start het plasma via de software (RF-generator aan). Het plasma ontsteekt zichtbaar als een helder blauw-witte fakkel in de toorts. Controleer dat de vlam stabiel brandt en niet oscilleert.
6. Verwarm en stabiliseer. Laat het plasma minimaal 15–30 minuten stabiliseren vóór de eerste meting. In deze periode equilibreert de toorts en stabiliseren de optica (ICP-OES) of de cone-interface (ICP-MS). Spoel de vernevelaar met 2 % HNO₃ als purge-oplossing.
7. Voer de dagelijkse afstemming uit (tune). Injecteer de tune-oplossing (multi-element mix bij typisch 1–10 µg/l; voor ICP-MS: Li, Y, Ce, Tl of fabrikantspecifieke mix) en optimaliseer plasma- en optische parameters totdat het signaal en de stabiliteit binnen de acceptatiecriteria vallen. Pas dan is het instrument gereed voor kalibratie en meting.

Bij een dagelijkse herstart vanuit standby (plasma was uit maar vacuüm/koeling bleef aan) vervallen stappen 3 en 4; het instrument is doorgaans binnen 15 minuten na plasmasontsteken meetklaar. Raadpleeg altijd de instrumentspecifieke handleiding van de fabrikant voor de exacte startprocedure, acceptatiecriteria van de tune en onderhoudsinstructies.

Hoe voer je een ICP-OES of ICP-MS meting stap voor stap uit?

1. Opstarten en stabiliseren — schakel het instrument in en laat het argonplasma minimaal 15–30 minuten stabiliseren voordat een meting begint. Het plasma bereikt pas na opwarming een stabiele temperatuur en ionisatie-efficiëntie. Spoel de vernevelaar met 2 % HNO₃ als blanco spoeloplossing.
2. Optimalisatie plasmaparameters — stel vermogen (typisch 1100–1550 W), koelgasflow (12–15 l/min Ar), hulpgasflow en vernevelaarflow in op basis van een dagelijkse afstemming (tune solution: Li, Y, Ce, Tl bij ICP-MS; multi-element bij ICP-OES).
3. Kalibratie — bereid een meerpuntsstandaardreeks voor (minimaal 5 niveaus inclusief blanco) in dezelfde zuurmatrix als het monster (typisch 2–5 % HNO₃). Voeg een interne standaard toe aan alle oplossingen (bijv. Rh, In, Re bij ICP-MS) voor correctie van signaalvariatie en matrixeffecten. Controleer lineariteit (r² ≥ 0,9998).
4. Meting van monsters — meet blanco, kalibratiestandaarden en monsters in volgorde. Spoel tussendoor met 2 % HNO₃ (30–60 s) om carry-over te voorkomen. Herhaal kalibratiecontrole elke 10–20 monsters (middenstandaard als QC-sample).
5. Resultaatberekening — de software berekent concentraties automatisch via de kalibratiefunctie (lineair of kwadratisch). Pas de verdunningsfactor toe bij verdunde monsters. Controleer of alle gemeten waarden binnen het lineaire bereik van de kalibratie vallen; meet opnieuw met hogere verdunning bij uitslag boven de hoogste standaard.
6. Afsluiten en onderhoud — spoel het systeem na de meting 5–10 minuten met 2 % HNO₃ en vervolgens met demi-water. Schakel het plasma uit en log dagelijks de coneconditie (ICP-MS), vernevelaardruk en plasmastabiliteit.

Hoe bereken je ICP-resultaten en hoe interpreteer je de data?

De basisberekening voor een gemeten element in het monster is:

C_monster = (C_gemeten − C_blanco) × verdunningsfactor

Bij gebruik van een interne standaard (IS) wordt gecorrigeerd voor signaalvariatie:

C_monster = C_gemeten × (IS_verwacht / IS_gemeten) × verdunningsfactor

Aandachtspunten bij data-interpretatie:

• Blancocorrectie — elke meting wordt gecorrigeerd voor de reagensblanco (alle chemicaliën zonder monster); hoge blanco wijst op verontreiniging van zuur, water of materiaal.
• Terugvinding (recovery) — een gecertificeerd referentiemateriaal (CRM) of spike-recovery controleert de volledigheid van de destructie en afwezigheid van matrixeffecten; acceptabel bereik: 90–110 %.
• Kan ICP-OES lithium en kwik meten? — Ja voor lithium: Li wordt gemeten via de 670,8 nm-lijn in ICP-OES met uitstekende gevoeligheid; standaard voor Li-batterijmateriaalanalyse. Voor kwik (Hg) is ICP-OES minder geschikt vanwege de hoge dampdruk van Hg en risico op geheugeneffecten; CV-AAS of ICP-MS zijn de voorkeursmethoden voor Hg in water (drinkwaternorm < 1 µg/l).
• Onderhoud ICP-OES/MS — dagelijks: spoelen, tune-controle, blancocheck. Wekelijks: reinigen vernevelaar en spraykamer. Maandelijks: inspecteren en reinigen toorts. Kwartaal: cones inspecteren (ICP-MS); vervangen bij zichtbare erosie of signaaldrift.

Bekijk het assortiment laboratoriumapparatuur en verbruiksmaterialen van Labvakhandel, of neem contact op voor advies bij de keuze van de juiste materialen voor uw toepassing.

Onderdeel van: Voedingslaboratorium · Milieulab · Farmaceutisch lab

Disclaimer: De informatie in dit artikel is bedoeld als algemene technische toelichting. Canidae Seal B.V. / Labvakhandel.nl aanvaardt geen aansprakelijkheid voor de toepassing van deze informatie in specifieke analytische, klinische of industriële situaties. Raadpleeg voor uw eigen toepassing altijd de geldende normen, vakliteratuur en de documentatie van fabrikant en apparatuur.